SJ-400/SJ-411/412表面粗糙度測量儀簡單介紹

SJ-400/SJ-411/412表面粗糙度測量儀表面粗糙度測量儀配備有符合ISO,DIN,ANSI,和JIS標準的36種粗糙度評價參數(shù)。一個寬范圍、高分辨率的檢測器和一個直接驅動元件，提供了在同類產(chǎn)品中更*的高精度測量。范圍／分辨率:800μm/0.000125μm(8μm測量范圍)

的詳細介紹

標準配備有強力支持無軌測量時水平調整作業(yè)DAT (Digital Advanced Tilting) 功能的上下傾斜裝置。 
DAT (Digital Advanced Tilting) 功能，可行預先測量，從其測量結果來計算測量面的傾斜度。 
任何人都可以簡單地進行水平調整，既能減輕人為誤差還可提高作業(yè)效率。 

SJ-411表面粗糙度儀- 詳細參數(shù)

標準配備有強力支持無軌測量時水平調整作業(yè)DAT (Digital Advanced Tilting) 功能的上下傾斜裝置。

DAT (Digital Advanced Tilting) 功能，可行預先測量，從其測量結果來計算測量面的傾斜度。

任何人都可以簡單地進行水平調整，既能減輕人為誤差還可提高作業(yè)效率。

用途

球面或圓柱面的表面粗糙度是無法直接測量的，但除去圓形狀成分進行補正即可進行表面粗糙度評價。

除了圓形外，還可以對應拋物線、圓錐形、傾斜等表面的測量。

性能參數(shù)

大范圍高分辨率檢出器

■檢出器

測量范圍/ zui小分辨率:

800μm/0.01μm

80μm/0.001μm

8μm/0.0001μm

高精度直線驅動部

■驅動部

直線度/ 驅動長度:

0.3μm/25mm (SJ-411)

0.5μm/50mm (SJ-412)

無軌檢測器和弧形表面補償功能使它能有效地評價圓柱體表面粗糙度。特細的階差，直線度、波度均可用無軌測量功能測出。

測量數(shù)據(jù)可通過RS-232C接口電纜(選件)由外部PC輸出。帶有粗糙度標準板。

由數(shù)字濾波功能可得到全真的表面粗糙度輪廓圖。 GO/NG判斷功能。自動校正功能。 

技術參數(shù) 
X軸(驅動部)
測量范圍:25mm(SJ-401),50mm(SJ-402)
測量速度:0.05,0.1,0.5,1.0mm/s
返回速度:0.5,1.0,2.0mm/s
移動方向:向后 
直線度:0.3μm/25mm(SJ-401),
0.5μm/50mm(SJ-402)
定位:±1.5°(傾角),10mm(向上／向下)
檢測器 
范圍／分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,
8μm/0.0001μm(使用測頭選件時， 
zui大可達2400μm)
檢測方法:無軌／有軌測量 
測力:4mN或0.75mN(低測力型)
測針針尖:金剛石、90o/5μmR
(60o/2μmR:低測力型)
導頭曲率半徑:40mm
檢測方法:差動電感式 
電源:通過AC適配器／可充電鎳氫電池 
電池壽命:zui多可測量600次(不帶打印)
充電時間:15個小時 
數(shù)據(jù)輸出通過RS-232C端口／SPC輸出 
尺寸(DxH)
控制器:307x165x94mm
高度-傾角調整裝置:131x63x99mm
驅動部:128x36x47mm(SJ-401),
155x36x47mm(SJ-402)
重量 
控制器:大約1.2kg
高度-傾角調整裝置:大約0.4kg
驅動部:0.6kg(SJ-401),0.7kg(SJ-402)

評估能力 
評估輪廓:
P(主輪廓),R(表面粗糙度輪廓),W(濾波波度輪廓),
DIN4776、粗糙度motif、波形motif
評估參數(shù):
Ra,Ry,Rz,Rq,Pc,R3z,mr,Rt,Rp,Rv,Sm,S,?c,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,
Mr2,A1,A2,Lo,Ppi,R,AR,Rx,Da,Dq,Ku,HSC,mrd,Sk,W,AW,
Wte,,Vo
分析圖表:
支撐曲線(BAC1/2)、振幅分布曲線(ADC)
濾波類型2CR,PC75,高斯 
截止波長0.08,0.25,0.8,2.5,8mm
取樣數(shù):X1,X3,X5,XL
任意長度(XL):0.1-25mm(0.1-50mm:SJ-402),
0.1mm增量 
取樣長度(L):0.08,0.25,0.8,2.5,8mm
打印機熱敏打印機 
打印寬度48mm(紙寬:58mm)
紀錄倍率 
垂直:20X-100,000X、自動 
水平:1X-1,000X、自動 
功能 客戶化:顯示／評價參數(shù)的選擇 
數(shù)據(jù)補償:R表面、傾斜補償 
標尺功能:
顯示任意兩點間的坐標差 
數(shù)字調整工作臺功能： 
無軌測量時、協(xié)助調水平 
移動檢測模式 
驅動部停止時輸入測頭移動 
統(tǒng)計過程:zui大值、zui小值、均值、標準差、合格率、 
直方圖 
公差判斷:可確定三個參數(shù)的上、下極值。 
測量條件儲存:5組測量條件(控制單元

測量凹凸面的粗糙度 
球面或圓柱面(R表面)的粗糙度通常無法評價，但以濾波器去除半徑之后，R表面數(shù)據(jù)就可像平面測量那樣加以處理。

GO/NG指示 
測量后，顯示GO/NG。判斷結果為NG時會突出顯示。

統(tǒng)計數(shù)據(jù) 
對一個粗糙度參數(shù)進行多重測量，在此基礎上，可進行統(tǒng)計(平均值,標準偏差,zui大／zui小值、合格率以及直方圖)。

評估能力:SURFPAK-SJ
達到業(yè)界標準:ISO4287:1997,ANSI/ASMEB46.1-1995,JIS
B06011994等 
評估輪廓:P(主輪廓)、R(表面粗糙度輪廓),WC,WCA,WE
WEADIN4776輪廓、E(包絡殘余線)、粗糙度motif、波 
形motif
評估參數(shù):Ra,Rq,Rz,Rz(JIS),Ry,Ry(DIN),Rc,Rpi,Rp,RpmaxRvi,
Rv,Rvmax,Rti,Rt,R3zi,R3z,R3y,S,Pc(Ppi),Sm,HSC,mr,?c,
plateauratio,mrd,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,?a,?q,?a,?q,Sk,
Ku,Lo,Lr,A1,A2
Rx,RAR,SR,SAR,NR,NCRX,CPM
Wte,,W,AW,SW,SAW,NW
分析圖表:ADC,BAC1,BAC2、功率譜圖、自相關圖、Walsh
功率譜圖、Walsh自相關圖、傾斜分布圖、局部峰值 
分布圖、參數(shù)分布圖 
濾波類型:2CR-75%,2CR-50%,2CR-75%(相位校正),2CR-
50%(相位校正),高斯-50%(相位校正)
截止波長:
?c:0.025,0.08,0.25,0.8,2.5,8,25mm或任意值 
fl:0.25,0.8,2.5,8mm或任意值 
fh:0.25,0.8,2.5,8mm或任意值 
取樣長度(L):
0.025,0.08,0.25,0.8,2.5,8,25mm或任意值 
數(shù)據(jù)補償:傾斜補償、R平面(曲面)補償、橢圓補償、 
拋物線補償、雙曲線補償、自動錐面補償、多項式補 
償、多項式自動補償 
數(shù)據(jù)的刪除 
刪除越出測量范圍所得數(shù)據(jù)，以避免越界誤差。 
刪除范圍的數(shù)據(jù)，以進行重新計算。 
自動刪除數(shù)據(jù)。 
紀錄倍率 
垂直:100X-500,000X、水平:1X-10,000X生成報告的特殊功能 
位圖圖像粘貼功能 
數(shù)據(jù)圖表的多種排布 
*RS-232C電纜